教育局新聞稿1111005臺北市112學年度國民小學一般智能資賦優異學生鑑定於111年10月11日至10月17日受理報名

【主題:臺北市112學年度國民小學一般智能資賦優異學生鑑定於111年10月11日至10月17日受理報名】

【臺北報導】為讓一般智能資賦優異學生接受適性教育,臺北市政府教育局每年定期辦理國小一般智能資賦優異學生鑑定,112學年度國民小學一般智能資賦優異學生鑑定於111年10月11日至10月17日期間辦理報名作業,欲參與鑑定之學生,請於111年10月17日中午12時前至「臺北市國民小學一般智能資優學生鑑定安置系統」(https://www.gtide.tp.edu.tw)完成線上報名,並將網路報名之相關資料自行下載列印,於111年10月17日下午4時前繳交至就讀學校導師/特教組。

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現(111學年度)就讀本市國小2、4年級之學生,團體智力測驗成績達百分等級85以上或表現優異由家長、導師推薦者,皆可依鑑定安置計畫內一般智能資賦優異資源班安置年級一覽表報名參加。鑑定流程為「初選」團體智力測驗→「複選一」個別智力測驗 →「複選二」觀察評量 →提報臺北市特殊教育學生鑑定及就學輔導會「綜合研判」→公告鑑定結果。

一般智能資賦優異學生之鑑定,依「身心障礙及資賦優異學生鑑定辦法」第15條規定,須同時符合下列2項基準:(一)個別智力測驗評量結果在平均數正2個標準差或百分等級97以上。(二)經專家學者、指導教師或家長觀察推薦,並檢附學習特質與表現卓越或傑出等之具體資料。

教育局提醒家長,去年報名111學年度國民小學一般智能資優學生鑑定共有5,408位學生,通過學生計627名。當家長準備替子女報名參與鑑定時,請務必詳細閱讀「臺北市112學年度國民小學一般智能資賦優異學生鑑定安置計畫」(網址:https://www.doe.gov.taipei/News.aspx?n=188A8633D469F97E&sms=78D644F2755ACCAA),並請參考計畫中「一般智能資賦優異學生鑑定觀察推薦表」,檢核孩子的特質,適當觀察推薦及確認是否報名。若有任何問題,皆可逕洽學校特教組,以獲得相關訊息。

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